同轴光
光路描述：反射光线与镜头平行，称为同轴光。
效果分析：光线经过平面反射后，与光轴平行地进入镜头。此时被测物相当于一面镜子，图像体现的是光源的信息，当“镜子”出现凹凸不平时，将格外地明显。
主要应用：划痕、压印、凹凸点检测、轮廓检测。
常用光源：同轴光、平行同轴光、面光、线光。

背光

光源位于被测物的下方无遮挡时，光线直接进入镜头，图像灰度值很高；由于被测物遮挡了光线，图像上灰度值很低，所以得到了被测物轮廓信息。

01）漫射背光
光路描述：光源经过漫射板散射发光。
效果分析：提取轮廓时，对于有厚度、有弧度的产品，图像上边缘发虚，不够锐利；对于扁平的产品，图像效果稳定，性价比高。
主要应用：定位、尺寸测量、有无检测，缺陷检测。
常用光源：面光。 

02）平行背光
光路描述：通过平行结构使光源发出平行光。
效果分析：平行光能够精确得到不规则被测物的外轮廓，使诸如圆柱形产品，或有倒角、圆角的产品边缘成像清晰、锐利。一般配合远心镜头使用，精确很高。
主要应用：划痕、压印、凹凸点检测、轮廓检测。
常用光源：同轴光、平行同轴光、面光、线光。

结构光
光路描述：通过特殊结构使光源发出清晰的线阵列或点阵列。
效果分析：平光源投射到被测物上，缺陷会使得光斑阵列图案发生扭曲。
主要应用：平整度检测。
常用光源：结构光。

亮场
背景灰度值高，特征灰度值低。

暗场

背景灰度值低，特征灰度值高。

颜色选取技巧
根据被测物本身的颜色特征，使用对应的波长来提高对比度。常用以下两种方法
1、直接采用单色光源照射
2、使用白光加上单色带通滤镜。
01）红外光
利用红外光的良好穿透性，可以过滤被测物表面的大分子干扰。
02）紫外光
利用荧光效应检测UV胶和隐形码；另一方面，与红外光相反，弱穿透性可用于检测透明产品中的隐形特征。
03）偏光

使用偏光光源消除部分反光。